Misura 1 milione di micro fori in pochissimi minuti

I sistemi multisensore Werth sono ideali per la misura di componentistica elettrinca, meccanica di precisione e industria ottica. un esempio è la misurazione di piattaforme forate in vetro che sono prodotte in un pannello completo di 600 mm× 600 mm con fino ad un milione di fori. (Through Glass Vias - TGV). Il pattern individuale viene separato ed utilizzato per il packaging avanzato come ad esempio nella produzione di chip lo stacking dei circuiti. 100% misure di posizione, diametro (≤ 100 µm), orientamento stampo e controllo bave se richiesto. Planarità e spesseore del supporto in vetro possono essere determinate. La sfida della metrologia è nella risoluzione strutturale richiesta per catturare il diametro dei fori e lo stampo per un ampio numero di fori per cui si richiede una più spinta velocità rispetto una processo convenzionale di misura immagini.

La Werth VideoCheck® HA è specificatamente disegnata per la misura di precisione su particolari con tolleranze nel range del micron. Il brevetto Raster Scanning HD consente l’acquisizione automatica di un’ampia porzione di componenti con piccole geometrie ed elementi che richiedono grande accuratezza. Questo incontra le specifiche necessarie in termini di risoluzione e velocità di misura in modo unico. Il risultato è un immagine completa a risoluzione fino a 20,000 megapixels. Posizione, diametro e stampo fino a 1 milione di fori possono essere misurati e valutati in serie in meno di 15 minuti. Quanto sopra fa sì che il raster scanning HD sia molte volte più veloce di un metodo di misura convenzionale.

Werth probabilmente offre la più larga selezione di sensori che consentono la misura completa a velocità inarrivabili. Il brevetto Werth Fiber Probe®® è ideale per la misura degli errori di forma a diverse altezze nei fori e con la sfera di vetro a diametro ≥ 20 µm, è comsiderato il tastatore più di successo al mondo. Inoltre il sensore a luce cromatica (Chromatic Focus Point) è usato per la misura dello spessore e della planarità (glass thickness ≥ 200 µm). La distanza è determinata tramite i colori del riflesso della luce che consiente la misura di parti altamente riflettenti e superfici trasparenti anche nella misura degli spessori del coating die film sottili..