Giornata della tecnologia presso la sede di Giessen

Con partecipanti provenienti da tutta la Germania, la giornata tecnologica di Giessen del 4 dicembre è stata, come sempre, molto partecipata. tomografia Le relazioni degli utenti dell'industria sui temi "Lavorazione rapida ed efficiente con la CT" e "Utilizzo di Faber-Castell" sono state presentate rispettivamente da Thomas Lender, Toolcraft AG, e Sebastian Spörl, Faber-Castell Cosmetics. a ISO La prof.ssa Teresa Werner dell'Università di Scienze Applicate di Zwickau ha fornito informazioni su "Le nuove tolleranze generali 22081 e DIN 2769". L'amministratore delegato di Werth, Dr.-Ing. habil. tecnologia di misurazione a coordinate Ralf Christoph ha dato il benvenuto agli ospiti e ha presentato le tendenze attuali di .

Metrologia Nel 1987 Maria Werth, vedova del fondatore dell'azienda, ha istituito la Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth per promuovere e finanziare il lavoro scientifico nel campo delle tolleranze dimensionali senza contatto. Quest'anno, su suggerimento del Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Czarske della TU di Dresda, sono state premiate la tesi di laurea di Jie Zhang e la tesi di laurea di Julian Lich. Il discorso elogiativo è stato tenuto dal dottor Robert Kuschmierz.

Il programma è stato completato da visite guidate e dalla soluzione di compiti di misurazione individuali da parte degli specialisti Werth. – La serie di eventi per il prossimo anno, con giornate tecnologiche in Germania, Austria e Svizzera, è già in fase di pianificazione. Vi terremo aggiornati con la nostra newsletter.