Journée technique à la maison mère de Giessen

Avec des participants venus de toute l'Allemagne, la journée technique de Giessen du 4 décembre a été comme toujours très bien fréquentée. Les rapports d'utilisateurs issus de l'économie sur les thèmes "Évaluation rapide & efficace par CT" et "Utilisation de tomographie chez Faber-Castell" ont été présentés respectivement par Thomas Lender, toolcraft AG, et Sebastian Spörl, Faber-Castell Cosmetics. Teresa Werner de la Westsächsische Hochschule Zwickau a donné des informations sur "Les nouvelles tolérances générales selon ISO 22081 et DIN 2769". Le directeur de Werth, Dr.-Ing. habil. Ralf Christoph a accueilli les invités et a présenté les tendances actuelles de technique de mesure à coordonnées.

En 1987, Maria Werth, la veuve du fondateur de l'entreprise, a créé la fondation Dr. Ing. Siegfried Werth pour promouvoir et financer les travaux scientifiques dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact technique de mesure. Cette année, sur proposition du professeur Dr. Jürgen Czarske de l'université technique de Dresde, le travail de bachelor de Jie Zhang et la thèse de doctorat de Dr. Julian Lich ont été récompensés. L'éloge a été prononcé par le Dr. Ing. Robert Kuschmierz.

Des visites et la résolution de problèmes de mesure individuels par les spécialistes Werth ont complété le programme. La série de manifestations pour l'année prochaine avec des journées techniques en Allemagne, en Autriche et en Suisse est déjà en cours de planification – avec notre newsletter, nous vous tiendrons au courant.